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檢測開關的用途及使用方法
檢測開關根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出使用方法。
1.接點輸出式
以微型開關、限位開關、繼電器的接點為輸出的開關要素，與電磁開關、小型馬達、電磁器等連接作為主要目的，可進行數(shù)安培電流的開關控制。與電子控制設備連接時，需注意振動時間、最小負荷電流。
2.光電耦合輸出式
檢測電路電氣絕緣，與接點輸出式的使用方法相同?？煽刂?0～50mA電流的開關。
3.直流3線式
a. 電壓輸出型
進行檢測時，向負荷輸出電壓信號。電壓輸出型主要是以連接由電子計數(shù)器、無接點繼電器等的晶體管或IC構成的電子控制設備為目的而制造的。
b. 電流輸出型
亦可稱為開放、集電極輸出型。輸出晶體管動作時，有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管，則可進行50～200mA電流的開關，并可直接進行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負荷的驅(qū)動。
4. 直流2線式
該方式的接近開關有2根導線，因此，使用時對極性予以注意的話，不僅使用方法可與機械式限位開關相同，而且配線簡單，但需注意下述狀況。
(1) 即使開關處于關閉狀態(tài)，也需向接近開關的檢測電路供給電流。為此，負荷中有微量電流流動。該電流稱為漏電流。漏電流時，負荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。
2.偶發(fā)故障
包括由于半導體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開關經(jīng)常發(fā)生故障時，可以考慮為使用環(huán)境的問題，請向廠家咨詢。
3.負荷短路與配線錯誤
由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負荷短路時，導致大電流流向檢測開關，輸出回路燒毀。作為在檢測開關外進行的保護對策，可使用切斷快速短路電流的方法，通過熔斷器進行保護，不僅可保護負荷短路，還對地線有保護作用。但是，由于開關內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達不到100%的效果。
4. 干擾波導致的破損
由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時，其原因則可判斷為干擾波。電感負載開閉時發(fā)生的檢測開關的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的。
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