產(chǎn)品詳情
東莞市景瀚實(shí)業(yè)有限公司經(jīng)營20余年，擁有龐大的渠道和資源，專業(yè)的售后服務(wù)，自有工業(yè)園設(shè)備展廳，可為客戶提供質(zhì)成色最新，無損檢測設(shè)備，3Dxray，X射線檢測機(jī)，X光檢查機(jī)，SMT檢測客戶終生享受服務(wù)，故障2小時響應(yīng)，24小時排除，誠營，是您信賴的無損檢測設(shè)備，3Dxray廠商！
菲尼克斯v|tome|x s 是一款多功能高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)，可用于2D X射線檢測和3D CT（微米CT和納米CT），也能實(shí)現(xiàn)3D測量。
為了增加設(shè)備的靈活性，v|tome|x s能夠同時裝配180kV/15W的高功率納米焦點(diǎn)X射線管，240kV/320W微米焦點(diǎn)射線管。無論是用高分辨率掃描低射線吸收率工件，還是對高射線吸收率工件進(jìn)行3D分析，因?yàn)檫@種獨(dú)特的組合模式使得該系統(tǒng)在廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中成為一個非常高效、可靠的工具。
應(yīng)用
3D CT
X射線3D 工業(yè)CT在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進(jìn)行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學(xué)及其他自然科學(xué)中開辟了全新的應(yīng)用領(lǐng)域。
材料科學(xué)
高分辨率CT（微米CT或納米CT）不僅能用于檢測常規(guī)材料、 復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、空洞和裂痕實(shí)現(xiàn)三維可視化。
地質(zhì)勘探領(lǐng)域
高分辨率CT（微米CT或納米CT）廣泛應(yīng)用于檢測地質(zhì)樣本。例如探測新能源。高分辨率CT系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示微米級別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更精確地判定當(dāng)前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
測量技術(shù)
X射線3D測量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)非破壞性測量。相比于傳統(tǒng)的觸點(diǎn)坐標(biāo)測量技術(shù)，CT掃描能夠同時獲取工件表面的所有點(diǎn)，包括所有隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進(jìn)行非破壞性測量是不可能實(shí)現(xiàn)的。V|tome|x配備的特殊的3D測量包提供了實(shí)現(xiàn)精度、可重復(fù)性、界面友好的三維測量所需的一切。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，CT的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。比如可以用來分析整個部件的所有尺寸是否符合設(shè)計(jì)的尺寸。
塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線CT（微米CT或納米CT）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷。
傳感與電氣工程
對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、絕緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導(dǎo)體元件和電氣設(shè)備（焊點(diǎn)）。
| 型號 | Phoenix V|tome|x S | Phoenix V|tome|x M |
| x射線管類型 | 開放式設(shè)計(jì)，反射式高功率微焦點(diǎn)X射線源，配置封閉式水冷系統(tǒng) | |
| 投射式高功率納米焦點(diǎn)射線源（開放式設(shè)計(jì)）（選配） | ||
| 電壓/功率 | 240KV/320W | 300KV/500W |
| 納米CT的雙源設(shè)計(jì)180kV/20W配置鉆石靶的高功率納米焦點(diǎn)射線源、高精度氣浮轉(zhuǎn)臺、雙源一鍵式切換系統(tǒng)（選配） | ||
| 幾何放大倍率（3D） | 1.46倍至100倍/納米射線源后增大至200倍（選配） | 1.3倍至100倍/納米射線源后增大至200倍（選配） |
| 細(xì)節(jié)檢測能力 | <lμm （微米焦點(diǎn)射線源）/0.2μm （納米焦點(diǎn)射線源）（選配） | |
| 最小體素尺寸 | 2μm （微焦點(diǎn)） | 2μm （微焦點(diǎn)）/lμm （dyn.41|100）（選配） |
| <lμm （納米焦點(diǎn)射線源）（選配） | <0. 5μm(納米焦點(diǎn)射線源+dyn. 41|100) | |
| 測量精度 | 4.5+L/50μm 參考 VDI 2630-1.3 | |
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探測器類型 依據(jù)ASTM E2597標(biāo)準(zhǔn) |
溫度穩(wěn)定性 GE dynamic41|200 平板探測器，410x410mm （16'xl6'） 200μm像素尺寸，2036x2036像素?cái)?shù)量（4MP）,高動態(tài)范圍>10000:1 |
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GE dynamic 41|100 平板探測器，410x410mm （16'xl6‘） 100μm像素尺寸，4048x4048像素?cái)?shù)量（16MP）,分辨率提高2倍（選配） |
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| 機(jī)械系統(tǒng) | 3軸或5軸高精度機(jī)械系統(tǒng)獨(dú)特設(shè)計(jì)優(yōu)化穩(wěn)定性 | 大理石基座的4軸機(jī)械系統(tǒng) |
| 焦距 | 800mm | 800mm |
| 樣品直徑x高度 | 3D掃描尺寸300mm?x260mm,裝載 | 3D掃描尺寸360mm x600mm,限制移動范圍 |
| 400mm?x1000mm /offset|CT(選配) | 3D掃描范圍420mm ?x400mm | |
| 樣品重量 | 10kg (22 lbs.) | 50kg (110 lbs.),高精度 CT:20Kg (44 lbs.) |
| 物距 | 545mm (微焦點(diǎn)) | 600mm (微焦點(diǎn)) |
| 系統(tǒng)尺寸WxHxD | 2,170mm x 1,690 mmxl,500mm (85.4" x66.5"x 59") | 2,620mm x 2,060 mmx1,570mm (103" x81"x 62") |
| D 2,980mm (117.3")包含控制臺和發(fā)生器 | ||
| 系統(tǒng)重量 | 約 2,900 kg/6,400 lbs.（不含附件） | 約 7,960 kg/17,550 lbs.（不含附件） |
| 溫度穩(wěn)定性 | 射線源冷卻系統(tǒng)|溫度穩(wěn)定型探測器 | 射線源冷卻系統(tǒng)|溫度穩(wěn)定型探測器|溫度穩(wěn)定型鉛房 |
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Scatter|correct 硬件（選配） 及軟件模塊（可升級） |
最小化散射線偽影，達(dá)到線陣列同等水平圖像質(zhì)量 | |
| 掃描直徑：260mm,幾何放大倍率1.51倍--100倍 | ||
| 高通量靶（選配） | 檢測效率提高2倍或檢測效果提高2倍；射線源功率為100W | |
| 2D檢測模塊（選配） | 選配傾斜軸，檢測樣品重量10kg（22 lbs.）|2D檢測軟件+datos|xCT軟件 | |
| 測量軟件（可升級）（選配） | 2標(biāo)準(zhǔn)件 | 可選多標(biāo)準(zhǔn)件 |
| 螺旋CT&擴(kuò)展CT（選配） | 采用高級掃描模式，提升掃描范圍和圖像質(zhì)量，螺旋CT:用于長樣品掃描，并有效減少偽影; | |
| 擴(kuò)展CT:可以掃描更大尺寸樣品，或者獲得更高的分辨率 | ||
| click&measure|CT(選配) | 用于全自動數(shù)據(jù)處理 | 已包含 |
| production|edition (選配) | 根據(jù)需求配置全自動機(jī)器人 | |
| 軟件 | phoenix datos|x 3D圖像采集和數(shù)據(jù)重建軟件，擁有不同的3D軟件包，用于尺寸測量、失效分析和結(jié)構(gòu)檢測 | |
| 輻射安全 | 全封閉式自屏蔽防護(hù)鉛房，符合德國RoV.它符合法國NFC 47100和美國性能標(biāo)準(zhǔn)21CFR J章的規(guī)定。 | |
| 設(shè)備使用必須要符合當(dāng)?shù)氐陌踩ㄒ?guī)要求 | ||
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